Sylabus przedmiotu

Drukuj

Przedmiot:

Wykład monograficzny

Kierunek:

Chemia, II stopień [4 sem], stacjonarny, ogólnoakademicki, rozpoczęty w: 2014

Specjalność:

analityka chemiczna

Tytuł lub szczegółowa nazwa przedmiotu:

Wykład monograficzny

Rok/Semestr:

II/3

Liczba godzin:

30,0

Nauczyciel:

Komosa Andrzej, dr hab.

Forma zajęć:

wykład

Rodzaj zaliczenia:

egzamin

Punkty ECTS:

4,0

Godzinowe ekwiwalenty punktów ECTS (łączna liczba godzin w semestrze):

0	Godziny kontaktowe z prowadzącym zajęcia realizowane w formie konsultacji
30,0	Godziny kontaktowe z prowadzącym zajęcia realizowane w formie zajęć dydaktycznych
0	Przygotowanie się studenta do zajęć dydaktycznych
0	Przygotowanie się studenta do zaliczeń i/lub egzaminów
0	Studiowanie przez studenta literatury przedmiotu

Poziom trudności:

zaawansowany

Wstępne wymagania:

Wiedza na tematoddziaływania promieniowania elektromagnetycznego z ośrodkiem. Wiedza na temat własciwości promieniowania rentgenowskiego.

Metody dydaktyczne:

pokaz
wykład informacyjny
z użyciem komputera

Zakres tematów:

Wykład monograficzny obejmuje zagadnienia związane z zastosowaniem metody fluorescencyjnej spektrometrii rentgenowskiej do analizy pierwiastków w różnych typach próbek. Przedstawione zostaną podstawy teoretyczne metody, aparatura pomiarowa, sposób przygotowania próbek, analiza widma promieniowania, wykonanieoznaczeń jakościoych i ilościowych.

Podstawy teoretyczne metody fluorescencyjnej spektrometrii rentgenowskiej (XRF)
Właściwości promieniowania rentgenowskiego, prawoMoseleya, promieniowanie fluorescencyjne.
Aparaturapomiarowa, metoda ED-XRF i WD_XRF: lampy rentgenowskie, detektory.
Widmo fluorescencyjne, interferencje, efekty matrycowe.
Przygotowanie próbek do pomiarów w zależnośći od stanu skupienia.
Analiza ilościowa metodą kalibracyjną i opartą na parametrachfundamentalnych.
Wpływ przygotowania i rodzaju próbkina wynik pomiaru.
Źródła błędów w analizie XRF.
Przykłady zastosowania metody XRF.
Demonstracja wykonywania pomiarów przy wykorzystaniu aparatu Epsilon 5 (Panalytical).

Forma oceniania:

egzamin ustny

Warunki zaliczenia:

Egzamin ustny

Literatura:

Ze względu na brak literatury w języku polskim proponuje się zapoznanie z materiałami z internetu (w wersji angielskiej)

http://www.learnxrf.com/Principles_of_XRF.htm
http://www.bruker-axs.de/fileadmin/user_upload/xrfintro/index.html
P. Brouwer - Theory of XRF. Panalytical (Ed.), Almelo 2006.

Modułowe efekty kształcenia:

01	Posiada pogłębioną wiedzę z wybranych działów chemii, rozumie znaczenie chemii dla postępu nauk ścisłych i przyrodniczych, poznania świata i rozwoju cywilizacji
03	Potrafi zastosować posiadana wiedzę do rozwiązywania problemów o średnim poziomie złożoności, zarówno w zakresie teoretycznym jak i praktycznym
07	Potrafi formułować zagadnienia służące dalszemu pogłębianiu jego wiedzy.